配备LESA的Nano ESI-MS
引进配备LESA（用于局部表面溶剂萃取的自动离子源）的Nano ESI-MS
介绍了具有LESA（液体萃取物表面分析）功能的纳米ESI-MS系统。 以往难以对应的以下两种问题现在迎刃而解。
① 局部溶剂萃取纳米ESI-MS测量
使用自动离子源的LESA功能，可以调制样品表面上的局部溶剂提取物（空间分辨率> 400μmφ），以对表面附着成分进行详细的结构分析。 （请参阅技术文件①）
② 特殊溶液（高浓度溶液，高/低pH溶液）中解离性化合物（络合物，有机金属盐）和组分的结构分析
由于纳米流能够在比以前更软的电离电压条件下进行测量，因此即使样品量很少，也可以稳定地检测与分子量有关的离子。 由于Orbitrap可以进行高质量的分辨率测量，因此可以进行高分辨率的成分计算。 （见技术文件②）
具有代表性的表面分析方法比较
LESA NanoESI-MS和TOF-SIMS的比较
| LESA NanoESI-MS | TOF-SIMS | |
|---|---|---|
| 质荷比范围 | m/z 50-6000 | m/z 1-2000 |
| 质量分辨率 | 140,000 （m/z 200） | <10,000 （m/z 200） |
| 空间分辨率 | >400 μmΦ | ～300 nmΦ |
| 测试环境 | 大气压下 | 真空下 |
| 检出离子 | 分子量关联离子 （含低分子量成分和有机金属错体） | 二次离子 （含有碎片离子） |
| 凹凸表面测定可否 | 〇 | × |
