No.0434 ABS树脂的微小部分的劣化分析

当劣化时,可能会在特定构件中优先生成混合有多种聚合物的树脂,因此,对微小部分进行化学状态分析很重要。 在此,以ABS树脂为例,通过使用能够评价微小区域的化学状态的STXM,对各构成树脂评价由紫外线照射引起的劣化行为。

STXM的特征

STXM(扫描透射X射线显微镜)

纳米级显微XAFS

No.0434 ABS树脂的微小部分的劣化分析
适合评估有机材料的状态

ABS树脂劣化分析

样品:ABS树脂(AS树脂和聚丁二烯的共混聚合物)
・根据紫外线照射时间(无紫外线照射,1分钟照射,10分钟照射,3小时照射)评估状态变化
・评估C K端A和B区域的化学状态

No.0434 ABS树脂的微小部分的劣化分析

C K边缘XANES中的紫外线照射时间依赖性

No.0434 ABS树脂的微小部分的劣化分析

从STXM推断ABS树脂的劣化行为

No.0434 ABS树脂的微小部分的劣化分析

分析机能和原理

【表面分析】X線吸収微細構造解析(X-ray Absorption Fine Structure:XAFS)

相关行业

材料,半导体/封装

技术区分

高分子材料,有机材料/化学产品

高分子材料,有机材料/化工产品,电子/功能材料

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