一分钟涨知识——STXM分析正极材料

    扫描透射X射线显微镜(STXM)具有在40nm以下的空间分辨率和极佳的能量分辨率。在分析化学价态和纳米尺寸结晶结构中大有用处。所以常常被用来研究LIB正极材料的充电状态和劣化情况。

    下图中,Bulk区域和Surface区域的平均价态和结构类型都得到了测定。

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