【2020/12/10 14点开讲】诚邀您参加OLED材料解析技术专题研讨会 东丽分析

【2020/12/10 14点开讲】诚邀您参加OLED材料解析技术专题研讨会 东丽分析

东丽分析技术开发有限公司(TRCS)携手位于日本的母公司Toray Research Center(TRC),带来OLED材料最新解析技术的专题讲座,届时,我们将现场连线驻日本二位相关领域的专家,现场为您答疑解惑,与您共同探讨业界前沿。本次为2020年年底前的最后一场直播,在此感谢各位一直以来的支持与鼓励,衷心期待您的参与

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参加方式  

■时间:2020年12月10日(周四) 14点开讲 (含答疑环节,总时长预计为1到2小时)

■地点:微信直播(微信小程序)

■费用:免费参加,扫码预约(当日亦可直接参加,直播结束后扫码随时观看回放)

■讲座简介:Toray Research Center(TRC)在OLED材料的分析方面有至今已逾30年的丰富经验。我公司始终致力于开发最新的分析技术,以适应OLED材料不断发展的需求。在本次讲座中,我们将主要讨论显示器设备的逆向工程和TFT部位的最新观察技术,同时向您介绍运用多种先进分析手段的评价实例。

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【2020/12/10 14点开讲】诚邀您参加OLED材料解析技术专题研讨会 东丽分析

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特邀嘉宾
□ 姓名
宮本 隆志(Miyamoto Takashi)
Toray ResearchCenter表面科学研究部主任研究员
□ 教育·工作和研究经验
[教育经历]
1996年3月 毕业于德山工业大学信息与电子工程系
2004年3月 毕业于京都工业大学大学院理学研究科修士课程
[工作经历]
1996年4月 东丽株式会社Toray Research Center
2015年4月至今 Toray Research Center表面科学研究部高级研究员
[研究经历]
1996年起 从事使用二次离子质量分析(SIMS)的半导体和工业材料分析
2003年起 从事有机电子设备评估技术的开发,并建立了诸如有机SIM背面SIMS的基本技术以及使用同位素标记物对密封性能的评估。
2013年起  从事SIMS-OES / CL /Raman的研发
 
□ 专业领域
二次离子质量分析(SIMS)及材料解析
 
□ 主要论文
1. Study of differences between MCs+ and MCs2+ SIMSdepth profiles
18th International Conference on Secondary Ion MassSpectrometry (SIMS18),
Surface and Interface Analysis vol.45, Issue 1,p.101-102 (2011), 
T.Miyamoto, S.Numao, T.Hasegawa, A.Karen
2. Study of impurity diffusion through an OLEDdevice interface by backsdie SIMS
Hyomen Kagaku, Vol.28, Issue 5, p.249-252 (2007)
T.Miyamoto, N.Fujiyama
3. Quantification of oxygen at the interfacebetween poly silicon film and silicon substrate
Proceedings of the 12th International Conference onSecondary Ion Mass Spectrometry (SIMS12),
Elsevier Science Limited, p.377-380 (1999)
T.Miyamoto, E.Hayashi, N.Morita, N.Nagai,T.Hasegawa, M.Hatada, A.Karen, A.Ishitani
 
□ 姓名
川崎 直彦(Kawasaki Naohiko)
Toray ResearchCenter 形态科学研究部形态科学第一研究室室长
 
□ 教育·工作和研究经验
[教育经历]
2001年3月 东京大学工学部物理工学系毕业
2003年3月 东京大学新领域研究生院材料科学硕士课程毕业
2020年3月 获得京都大学博士学位(理学博士学位)
[工作经历]
2003年4月至今 东丽株式会社Toray Research Center
[研究经历]
2004年 京都大学化学研究所的合同研究员 使用电子显微镜进行电子结构分析的研究(至2006年3月)
2014年 南巴黎大学固体物理研究所 访问电子研究员 从事电子显微镜的介电性能研究(至2015年3月)

□ 专业领域
电子显微镜及形态科学相关解析技术

□ 主要论文
1.Extinction andScattering Properties of High-Order Surface Plasmon Modes in SilverNanoparticles Probed by Combined Spatially Resolved Electron Energy LossSpectroscopy and Cathodoluminescence
ACS Photonics  vol.3, 1654-1661 (2016).
Naohiko Kawasaki, Sophie Meuret, RaphaëlWeil, Hugo Lourenço-Martins, Odile Stéphan, Mathieu Kociak
2.Analytical electronmicroscopy investigation of elemental composition and bonding structure at theSb-doped Ni-fully-silicide/SiO2 interface
Journal of Applied Physics vol.109,063716-1-063716-6 (2011).
Naohiko Kawasaki, Naoyuki Sugiyama, YujiOtsuka, Hideki Hashimoto, Hiroki Kurata, Seiji Isoda
3.Energy-loss near-edgestructure (ELNES) and first-principles calculation of electronic Structure ofnickel silicide systems
Ultramicroscopy vol.108, 399-406 (2008).
Naohiko Kawasaki, Naoyuki Sugiyama, YujiOtsuka, Hideki Hashimoto, Masahiko Tsujimoto, Hiroki Kurata, Seiji Isoda

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