• 【2020/11/6 14点开讲】还有一周! 东丽分析诚邀您参加锂离子电池解析技术专题讲座

    东丽分析技术开发(上海)有限公司(TRCS)携手日本母公司Toray Research Center,Inc.(TRC),带来锂离子电池最新分析技术的专题讲座,届时,我们将现场连线日本锂离子电池领域的专家,现场为您答疑解惑,与您共同探讨业界前沿。期待您的参与。 01 PART 主讲人   邓东华 东丽分析技术开发有限公司 研究员 目前在东丽主要从事电池、材料领域的分析开发研究。在分析行业有十多年的从业经验。熟悉中国、日本、欧美等国家的分析方法。多年研究和实践分析方法,对分析的…

    公司新闻 2020年10月28日
  • 《分析与评估2020》在线展览

    免费参加,但需要预先注册。 “分析与评估2020在线展览”将于10月12日(星期一)举行。我们的特别网站上将展示约100份关于最新分析技术的资料。所有技术文档均可供查看和下载,但必须注册才能参加。我们希望它对您的研究和开发有用,并期待与您在即将到来的活动中见面。 需要通过以下链接进行预注册。 注册后,用于访问该网站的URL将发送到您的电子邮件地址。 ※ 本活动不向同业开放,敬请谅解。 开放期间 2020年10月12日至23日 在此期间任何时间都可以观看。 注册  课题列表 1 最新技术 使用具有…

    公司新闻, 行业动态 2020年10月12日
  • No.0434 ABS树脂的微小部分的劣化分析

    当劣化时,可能会在特定构件中优先生成混合有多种聚合物的树脂,因此,对微小部分进行化学状态分析很重要。 在此,以ABS树脂为例,通过使用能够评价微小区域的化学状态的STXM,对各构成树脂评价由紫外线照射引起的劣化行为。 STXM的特征 STXM(扫描透射X射线显微镜) 纳米级显微XAFS ABS树脂劣化分析 样品:ABS树脂(AS树脂和聚丁二烯的共混聚合物)・根据紫外线照射时间(无紫外线照射,1分钟照射,10分钟照射,3小时照射)评估状态变化・评估C K端A和B区域的化学状态 C K边缘XANES…

    公司新闻, 服务案例 2020年9月3日
  • No.0435 变温AFM测定

    本文介绍了一种可变温度原子力显微镜测量技术。 通过使用该技术,可以研究由于加热引起的形貌和弹性模量变化,它将成为分析聚合物材料的有效工具。 利用温度可变的AFM测量技术,可以利用高温下的机械性能分布和高空间分辨率以及由于温度升高而引起的形貌变化来评估特定精细零件的机械性能。 可以在室温到大气中250°C的温度范围内进行测量,只要它不会干扰诸如样品熔化,热分解和极端膨胀/收缩的测量。 升温过程中聚乙烯薄膜表面形貌的观察 结果表明,在110℃下表面不规则度小。 由于该样品的熔点为112°C(根据DS…

    公司新闻, 服务案例 2020年9月3日
  • No.0431 用LEIS评估催化剂样品的表面原子第一层

    LEIS是唯一可以仅获取表面第一层元素信息的表面分析方法。 在用于废气净化、燃料电池和石油化工系统的催化剂研究中,LEIS能够评估作为气相和液相组分的反应场表面原子第一层的元素组成,甚至直接讨论催化活性组分的暴露和被覆情况都是可能的。 原理 LEIS: Low energy ion scattering 由于低能离子射线激发出的离子,相当大的概率在表面内外发生中和,所以仅有表面1~2层的离子有机会被检测到。进而改方法具有如下特性。 ● 可以获得仅表面上的第一层的元素信息。 ● 检测深度比XPS和…

    公司新闻, 服务案例 2020年8月31日
  • P01148_使用染色法对聚合物进行TEM观察

    在TEM观察聚合物中,由于结构元素没有显著差异,即使类型不同,也很难对相分离等结构进行对比良好的观察。 因此,用含有金属的试剂“染色”对特定聚合物的反应,进行相分离和层合观察。本文介绍了使用典型染色剂的聚合物材料的TEM观察。

    公司新闻, 服务案例 2020年8月27日
  • 先端SIMS分析仪NanoSIMS 50L

    Nano SIMS 本次导入的NanoSIMS 50L是一种二次离子质谱(SIMS)装置,在世界范围的分析机构在内当属先例。 其可以进行低至50 nm的高空间分辨率的成像分析和深度剖面分析,而传统的动态SIMS和TOF-SIMS则无法实现。 NanoSIMS的特征 小探针直径(在SIMS中最小) —微区分析 —高分辨率成像分析 高灵敏度(可以检测到杂质) NanoSIMS和SEM-EDX、EPMA的比较 功能 NanoSIMS SEM-EDX EPMA 探针 离子束(Cs+、O–) …

    公司新闻, 行业动态 2020年7月3日
  • 配备LESA的Nano ESI-MS

    引进配备LESA(用于局部表面溶剂萃取的自动离子源)的Nano ESI-MS 介绍了具有LESA(液体萃取物表面分析)功能的纳米ESI-MS系统。 以往难以对应的以下两种问题现在迎刃而解。 ① 局部溶剂萃取纳米ESI-MS测量 使用自动离子源的LESA功能,可以调制样品表面上的局部溶剂提取物(空间分辨率> 400μmφ),以对表面附着成分进行详细的结构分析。 (请参阅技术文件①) 技术文件①:使用LESA的高灵敏度纳米ESI-MS测量 LESA_01_P01930.pdf ② 特殊溶液(高…

    公司新闻, 行业动态 2020年7月2日
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