配备LESA的Nano ESI-MS

引进配备LESA(用于局部表面溶剂萃取的自动离子源)的Nano ESI-MS

介绍了具有LESA(液体萃取物表面分析)功能的纳米ESI-MS系统。 以往难以对应的以下两种问题现在迎刃而解。

配备LESA的Nano ESI-MS

① 局部溶剂萃取纳米ESI-MS测量

使用自动离子源的LESA功能,可以调制样品表面上的局部溶剂提取物(空间分辨率> 400μmφ),以对表面附着成分进行详细的结构分析。 (请参阅技术文件①)

② 特殊溶液(高浓度溶液,高/低pH溶液)中解离性化合物(络合物,有机金属盐)和组分的结构分析

由于纳米流能够在比以前更软的电离电压条件下进行测量,因此即使样品量很少,也可以稳定地检测与分子量有关的离子。 由于Orbitrap可以进行高质量的分辨率测量,因此可以进行高分辨率的成分计算。 (见技术文件②)

具有代表性的表面分析方法比较

LESA NanoESI-MS和TOF-SIMS的比较

LESA NanoESI-MSTOF-SIMS
质荷比范围m/z 50-6000m/z 1-2000
质量分辨率140,000
m/z 200)
<10,000
m/z 200)
空间分辨率>400 μmΦ~300 nmΦ
测试环境大气压下真空下
检出离子分子量关联离子
(含低分子量成分和有机金属错体)
二次离子
(含有碎片离子)
凹凸表面测定可否×

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