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【网络讲座预告】TRC携手仪器信息网，与您相约iCSMD2021！
Toray Research Center (TRC)多年来一直致力于推动半导体材料和器件分析技术的发展，并为日本和海外的客户提供各类分析服务。本次，TRC将与仪器信息网携手，开展半导体领域专题报告。在本次报告中，我们将邀请TRC形态科学领域专家，从载流子浓度分布、界面和晶体缺陷等角度出发，重点介绍针对有望用于电动汽车的GaN和SiC材料，使用先进的透射分析电子显微镜（TEM）进行纳米级高空间分辨率评估的示例。 报告题目：Advanced techniques based on TEM for …
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《分析与评估2021》在线展览
免费参加，但需要预先注册。 “分析与评估2021在线展览”将于10月11日（星期一）举行。我们的特别网站上将展示约100份关于最新分析技术的资料。所有技术文档均可供查看和下载，但必须注册才能参加。我们希望它对您的研究和开发有用，并期待与您在即将到来的活动中见面。 需要通过以下链接进行预注册。 注册后，用于访问该网站的URL将发送到您的电子邮件地址。 ※ 本活动不向同业开放，敬请谅解。 开放期间 2021年10月11日至22日 在此期间任何时间都可以观看。 注册 若网路连接不良无法打开页面，可以加…
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【2021/6/24 周四14:00-15:00 】全固态电池前沿分析技术-线上研讨会
日本东丽分析研究中心将面向中国国内客户，于2021年6月24日举办“全固态电池前沿分析技术”系列免费线上研讨会（英文演讲），期待您的参与。 合作单位 深水科技&天目湖储能学堂 直播讲师 Masahiro Saito, Ph.D. Surface Science Laboratories, Toray Research Center, Inc. 直播时间 6月24日 周四 14:00-15:00 直播地址 直播讲座简介 All-solid-state batteries (ASS…
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SEMICON CHINA 2021 邀请函
值此Semicon China展会到来之际，我们在Semicon China 2021展会上与TORAY集团公司，Toray Industries,Inc.; Toray Engineering Co.,Ltd.; TASMIT,Inc. ; 共同展出以下内容。 另外，同时欢迎来参加SEMI的论坛活动,中国显示大会OLED/Micro-LED与您共享资源。 在此诚挚地邀请您和您的公司代表莅临我们的展台，恭候您的到来，我们不胜荣幸！ ————R…
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【2020/12/10 14点开讲】诚邀您参加OLED材料解析技术专题研讨会 东丽分析
东丽分析技术开发有限公司（TRCS）携手位于日本的母公司Toray Research Center（TRC），带来OLED材料最新解析技术的专题讲座，届时，我们将现场连线驻日本二位相关领域的专家，现场为您答疑解惑，与您共同探讨业界前沿。本次为2020年年底前的最后一场直播，在此感谢各位一直以来的支持与鼓励，衷心期待您的参与 01 PART 参加方式 ■时间：2020年12月10日（周四） 14点开讲 （含答疑环节，总时长预计为1到2小时） ■地点：微信直播（微信小程序） ■费用：免费参加，扫…
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【2020/11/6 14点开讲】还有一周！ 东丽分析诚邀您参加锂离子电池解析技术专题讲座
东丽分析技术开发（上海）有限公司（TRCS）携手日本母公司Toray Research Center,Inc.（TRC），带来锂离子电池最新分析技术的专题讲座，届时，我们将现场连线日本锂离子电池领域的专家，现场为您答疑解惑，与您共同探讨业界前沿。期待您的参与。 01 PART 主讲人 邓东华 东丽分析技术开发有限公司 研究员 目前在东丽主要从事电池、材料领域的分析开发研究。在分析行业有十多年的从业经验。熟悉中国、日本、欧美等国家的分析方法。多年研究和实践分析方法，对分析的…
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《分析与评估2020》在线展览
免费参加，但需要预先注册。 “分析与评估2020在线展览”将于10月12日（星期一）举行。我们的特别网站上将展示约100份关于最新分析技术的资料。所有技术文档均可供查看和下载，但必须注册才能参加。我们希望它对您的研究和开发有用，并期待与您在即将到来的活动中见面。 需要通过以下链接进行预注册。 注册后，用于访问该网站的URL将发送到您的电子邮件地址。 ※ 本活动不向同业开放，敬请谅解。 开放期间 2020年10月12日至23日 在此期间任何时间都可以观看。 注册 若网路连接不良无法打开页面，可以扫…
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No.0434 ABS树脂的微小部分的劣化分析
当劣化时，可能会在特定构件中优先生成混合有多种聚合物的树脂，因此，对微小部分进行化学状态分析很重要。 在此，以ABS树脂为例，通过使用能够评价微小区域的化学状态的STXM，对各构成树脂评价由紫外线照射引起的劣化行为。 STXM的特征 STXM（扫描透射X射线显微镜） 纳米级显微XAFS ABS树脂劣化分析 样品：ABS树脂（AS树脂和聚丁二烯的共混聚合物）・根据紫外线照射时间（无紫外线照射，1分钟照射，10分钟照射，3小时照射）评估状态变化・评估C K端A和B区域的化学状态 C K边缘XANES…
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No.0435 变温AFM测定
本文介绍了一种可变温度原子力显微镜测量技术。 通过使用该技术，可以研究由于加热引起的形貌和弹性模量变化，它将成为分析聚合物材料的有效工具。 利用温度可变的AFM测量技术，可以利用高温下的机械性能分布和高空间分辨率以及由于温度升高而引起的形貌变化来评估特定精细零件的机械性能。 可以在室温到大气中250°C的温度范围内进行测量，只要它不会干扰诸如样品熔化，热分解和极端膨胀/收缩的测量。 升温过程中聚乙烯薄膜表面形貌的观察 结果表明，在110℃下表面不规则度小。 由于该样品的熔点为112°C（根据DS…
