【网络讲座预告】TRC携手仪器信息网，与您相约iCSMD2021！

Toray Research Center (TRC)多年来一直致力于推动半导体材料和器件分析技术的发展，并为日本和海外的客户提供各类分析服务。本次，TRC将与仪器信息网携手，开展半导体领域专题报告。在本次报告中，我们将邀请TRC形态科学领域专家，从载流子浓度分布、界面和晶体缺陷等角度出发，重点介绍针对有望用于电动汽车的GaN和SiC材料，使用先进的透射分析电子显微镜（TEM）进行纳米级高空间分辨率评估的示例。

• 报告题目：Advanced techniques based on TEM for the characterization of power semiconductor devices
• 报告人：川崎 直彦  (Dr.) Naohiko Kawasaki
• 时间：2021年10月19日 14:00~14:30 （具体时间可能变动，请随时关注官方消息）
• 地点：仪器信息网 网络讲堂
• 讲师介绍：

2003年 在东京大学完成硕士课程的学习并加入 Toray Research Center, Inc.

2014-2015年 在法国巴黎南方大学理学院固体物理实验室STEM组工作，利用电子显微镜参与纳米级光谱研究。

2020年  发表论文”通过电子能量损失光谱和理论计算分析纳米范围内材料的电子结构和介电性能” 取得京都大学理学博士学位。

在《应用物理学杂志》、《超显微学》、《显微学》和《微分析》等杂志上发表了许多论文。

川崎主任研究员的主要研究领域是利用透射分析电子显微镜对半导体材料进行定性分析。

报名和详细会议日程，详见：

https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsmd2021.html